HIOKI阻抗分析仪IM7580说明书 IM7580技术资料,1MHz-300MHz阻抗分析仪,6.5KG净重
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日置HIOKI -LCR测试仪,阻抗分析仪：
IM3523，IM3533,IM3536,3511-50,
3504-40,3504-50,3504-60,3506-10
3541,3511-50,3522-50,IM3523,IM3533,IM3536,IM3590,IM7580,
RM3544,RM3548,RM3544-01,RM3545,3554,BT3554,BT3561,BT3562/BT3563,
BT3562A,BT3563A.IM3570,IM3590,IM7580,IM7581,IM7583,IM7585,IM7587
阻抗分析仪IM3570频率:4Hz~5MHz
阻抗分析仪IM3590频率：1 mHz～200 kHz
阻抗分析仪IM7580A频率:1MHz~300MHz
阻抗分析仪IM7581频率:1MHz~300MHz
阻抗分析仪IM7583频率：1MHz~600MHz
阻抗分析仪IM7585频率：1MHz~1.3GHz
阻抗分析仪IM7587频率：1MHz~3GHz
日置IM7580A阻抗分析仪用途说明：
从电容等无源元件的等x1ao电路分析结果来判断合格与否
智能锁·防da0 ma的天线阻抗测量
压电元件的高su特x1ng检查
功能x1ng高分子电容的特x1ng检查
电感（线圈、变压器）的特x1ng检查
钽电容的特x1ng检查
湿度传感器（水晶振动子）的入库检查
测量汽车雷达元器件的损伤情况
针对智能门锁的RFID标签检查
测试夹具台IM9200
标配放大镜
SMD测试夹具IM9201
高频测量3GHz，对应6尺寸的SMD
适配器(3.5mm-7mm)IM9906
3.5mm(公头)-7mm转换
校准套件IM9905
OPEN/SHORT/LOAD的套装
PC通讯
GP-IB连接线9151-02
2m长
RS-232C 连接线 9637
9pin-9pin，1.8m长
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
*RS-232C连接线可用于连锁的交叉线。RS232C连接线9637(9针-9针，交叉型)不能用于硬件流控制时。
HIOKI阻抗分析仪IM7580A，频率1MHz到300MHz
 |  |  选件 |  选件 |  |  |
zu1快0.5ms，高su、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：zu1快0.5ms
● 基本j1ng度±0.72%.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7580s：等xiao电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等xiao电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者ren意的常数来显示频率特x1ng的理xiang值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准QUE的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了ren意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上XIAN值和下XIAN值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了ren意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了ren意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择ren意的扫描点和参数，zu1多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了ren意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N?m）。
请注意不要拧过头。
日置IM7580A基本参数
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| j1ng度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本j1ng度 | Z: ±0.72 % . θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | zu1快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等xiao电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |